布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以進(jìn)行多晶X射線衍射儀檢測。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-09-12

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：2479

產(chǎn)品咨詢 17621138977

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維X射線顯微鏡（XRM）

D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8

查看全部產(chǎn)品

晶體日記（十六）：APEX4 -從“數(shù)據(jù)庫”里尋找答案

晶體日記（十五）- 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量（2）

晶體日記（十一）-尋找“Q”峰背后的原因(4):“單選題”or“多選題”

詳細(xì)介紹在線留言

多晶X射線衍射儀檢測

項(xiàng)目	細(xì)則	收費(fèi)	說明
單掃一張圖譜	看d值，相對強(qiáng)度，不包括物相分析；每樣每次長15min，延長時(shí)間按100元15min計(jì)，不足15min按15min計(jì)	/	1.長時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測試，價(jià)格需面議
晶胞參數(shù)測定	已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過30min，延長時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
晶粒尺寸測定	已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過30min，延長時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
高分子結(jié)晶度測試	已知的確定物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間超過1h，延長時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
階梯掃描法	/	/
物相半定量	僅限于兩種已知物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間大于1h，延長時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)；多出物相，另加100元/相	/

多晶X射線衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率，而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。

倫琴實(shí)驗(yàn)室：400-100-9267 歡迎咨詢

上一個(gè)：環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測